Das US-Energieministerium (DOE) hat kürzlich seinen dritten Zuverlässigkeitsbericht zu LED-Treibern veröffentlicht, der auf beschleunigten Langzeit-Lebensdauertests basiert. Forscher des Solid State Lighting (SSL) des US-Energieministeriums glauben, dass die neuesten Ergebnisse die hervorragende Leistung der Accelerated Pressure Test (AST)-Methode unter verschiedenen rauen Bedingungen bestätigen. Darüber hinaus können die Testergebnisse und gemessenen Fehlerfaktoren Treiberentwicklern wichtige Strategien zur weiteren Verbesserung der Zuverlässigkeit aufzeigen.

Bekanntlich sind LED-Treiber zLED-Komponenten selbst, sind entscheidend für eine optimale Lichtqualität. Ein geeignetes Treiberdesign kann Flimmern eliminieren und für eine gleichmäßige Beleuchtung sorgen. Und der Fahrer ist auch die wahrscheinlichste KomponenteLED-Leuchtenoder Beleuchtungskörper zu Fehlfunktionen führen. Nachdem DOE die Bedeutung von Treibern erkannt hatte, startete es 2017 ein langfristiges Treibertestprojekt. Bei diesem Projekt handelt es sich um Einkanal- und Mehrkanaltreiber, die zur Befestigung von Geräten wie Deckennuten verwendet werden können.

Das US-Energieministerium hat zuvor zwei Berichte über den Testprozess und den Testfortschritt veröffentlicht, und jetzt ist es der dritte Testdatenbericht, der Produkttestergebnisse abdeckt, die 6.000 bis 7.500 Stunden lang unter AST-Bedingungen durchgeführt wurden.

Tatsächlich hat die Branche seit vielen Jahren nicht mehr so ​​viel Zeit, Fahrten in normalen Betriebsumgebungen zu testen. Im Gegenteil, das US-Energieministerium und sein Auftragnehmer RTI International haben den Antrieb in einer sogenannten 7575-Umgebung getestet – sowohl die Luftfeuchtigkeit als auch die Temperatur in Innenräumen werden konstant bei 75 °C gehalten. Dieser Test umfasst zwei Stufen der Treiberprüfung, unabhängig davon der Kanal. Das einstufige Design kostet weniger, aber es fehlt ein separater Schaltkreis, der zunächst Wechselstrom in Gleichstrom umwandelt und dann den Strom reguliert, was ein einzigartiges Merkmal des zweistufigen Designs ist.

Das US-Energieministerium berichtete, dass bei Tests mit 11 verschiedenen Laufwerken alle Laufwerke 1000 Stunden lang in einer 7575-Umgebung betrieben wurden. Wenn sich das Laufwerk in einem Umgebungsraum befindet, befindet sich die an das Laufwerk angeschlossene LED-Last unter Außenumgebungsbedingungen, sodass die AST-Umgebung nur das Laufwerk beeinflusst. Das DOE hat die Betriebszeit unter AST-Bedingungen nicht mit der Betriebszeit unter normalen Umgebungen in Verbindung gebracht. Die erste Charge von Geräten fiel nach 1250 Betriebsstunden aus, einige Geräte sind jedoch noch in Betrieb. Nach 4800 Stunden Testzeit fielen 64 % der Geräte aus. Dennoch sind diese Ergebnisse angesichts der rauen Testumgebung bereits sehr gut.

Forscher haben herausgefunden, dass die meisten Fehler in der ersten Stufe des Treibers auftreten, insbesondere in Schaltkreisen zur Leistungsfaktorkorrektur (PFC) und zur Unterdrückung elektromagnetischer Störungen (EMI). In beiden Stufen des Treibers weisen MOSFETs ebenfalls Fehler auf. Dieser AST spezifiziert nicht nur Bereiche wie PFC und MOSFET, die das Treiberdesign verbessern können, sondern weist auch darauf hin, dass Fehler normalerweise auf der Grundlage der Überwachung der Leistung des Treibers vorhergesagt werden können. Durch die Überwachung des Leistungsfaktors und des Stoßstroms können beispielsweise frühzeitig Fehler erkannt werden. Das zunehmende Blinken weist auch darauf hin, dass eine Fehlfunktion bevorsteht.

Das SSL-Programm des DOE führt seit langem wichtige Tests und Forschungen im SSL-Bereich durch, auch am Gateway